论文Agent 与开发者10:10Jev 与 Clef-Flash 决策模型:每类仅需 2 张参考图完成工业缺陷检测工厂质检最头疼缺陷样本太少,这篇论文用 Jev 和 Clef-Flash 做到每类 2 张图就超过 CLIP,还开源了代码和网页工具,做机器视觉的可以试试。#CLIP#缺陷检测#少样本学习#视觉模型aarXiv cs.AI@Fadel M. Megahed, Ying-Ju Chen原文稍后读已读值得跟进有用关注 CLIP